首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

用电子散斑干涉法进行结构内部微小缺陷检测的研究
引用本文:杨国标,吴愧,章彰,陆鹏.用电子散斑干涉法进行结构内部微小缺陷检测的研究[J].上海力学,2008,29(3).
作者姓名:杨国标  吴愧  章彰  陆鹏
作者单位:[1]同济大学航空航天与力学学院,上海200092 [2]中船重工711研究所,上海200433
摘    要:本文应用电子散斑干涉法和相移技术对结构内部缺陷测试进行了试验研究,研究中采用气压加载,获得了相同气压载荷作用下不同试件的变形图,由此计算得到的结果表明,有缺陷的试件和无缺陷的试件在相同的气压载荷作用下变形不同,同时,相同载荷作用下,缺陷尺寸不同时,试件的变形不同.该试验证明了电子散斑干涉法在研究结构内部缺陷在气压载荷作用下的微小变形的有效性,进一步对缺陷影响的定量研究将为预知缺陷的尺寸及位置,结构的安全和检测提供帮助,同时将该方法应用进一步的推广和改进,将为结构无损检测提供依据.

关 键 词:电子散斑干涉  气体压力  微小变形  缺陷检测  相移技术

Research on Inner Disfigurement Testing of Structures with Electronic Speckle Pattern Interferometry Method
YANG Guo-biao WU Kui ZHANG Zhang School of Aerospace Engineering , Applied Mechanics,Tongji University.Research on Inner Disfigurement Testing of Structures with Electronic Speckle Pattern Interferometry Method[J].Chinese Quarterly Mechanics,2008,29(3).
Authors:YANG Guo-biao WU Kui ZHANG Zhang School of Aerospace Engineering  Applied Mechanics  Tongji University
Institution:YANG Guo-biao WU Kui ZHANG Zhang School of Aerospace Engineering , Applied Mechanics,Tongji University.Shanghai 200092,China LU Peng Shanghai No.711 Institute,Shanghai 200433,China
Abstract:
Keywords:electronic speckle pattern interferometry  gas pressure  inner distortion  disfigurement testing  phase-shift  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号