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同时测量U、V场的云纹干涉系统
引用本文:戴福隆,李超.同时测量U、V场的云纹干涉系统[J].实验力学,2002,17(Z1):171-174.
作者姓名:戴福隆  李超
作者单位:清华大学,工程力学系,北京,100084
摘    要:本文介绍了两种可以同时测量物体变形U、V场的云纹干涉系统.并利用该系统成功地完成了有塑性变形高分子材料的泊松比测量实验.

关 键 词:云纹干涉法  同时测量  图像分离

The Moire Interferometry Measuring U、 V Field Simultaneously
Abstract:
Keywords:
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