| 电子散斑和全息光弹法相结合测量透明材料的应力强度因子KI |
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| 引用本文： | 代祥俊,陆鹏,张熹,蒲琪.电子散斑和全息光弹法相结合测量透明材料的应力强度因子KI[J].实验力学,2005,20(Z1):55-59. |
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| 作者姓名： | 代祥俊 陆鹏 张熹 蒲琪 |
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| 作者单位： | 1. 山东理工大学,建筑工程学院,淄博,255012
2. 中国船舶重工集团上海711研究所,上海,200093 |
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| 摘 要： | 全息光弹性中等和线是获得断裂力学中应力强度因子的一种有效方法之一.但用传统的全息光弹性方法获取等和线需暗房,要经过显影定影及再现,而且不能直接数字化使其应用受到限制.本文提出一种将全息光弹性与相移电子散斑干涉(Electric Speckle Pattern Interferometry,简称ESPI)有机结合的方法,不但克服传统全息光弹性的不足,而且使全息光弹性实现了数字化.文中将这一方法成功应用于有预制裂纹的三点弯曲试件上,定量求得其应力强度因子(Stress Intensity Factor,简称SIF)KI,而且实验值和理论值具有相一致的结果.
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| 关 键 词： | ESPI 全息光弹 相移 应力强度因子 |
Determinating SIF KI of Transparent Material by using Atechnique Integrated Phase-shift ESPI Method with Holography Photoelastic Method |
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| DAI Xiang-jun,LU Peng,ZHANG Xi,PU Qi.Determinating SIF KI of Transparent Material by using Atechnique Integrated Phase-shift ESPI Method with Holography Photoelastic Method[J].Journal of Experimental Mechanics,2005,20(Z1):55-59. |
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| Authors: | DAI Xiang-jun LU Peng ZHANG Xi PU Qi |
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