首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

基于透射电镜晶格图像数字云纹的应变测量方法
引用本文:高智逊,马路路,邢华丹,赵煜乘,仇巍.基于透射电镜晶格图像数字云纹的应变测量方法[J].实验力学,2019(2):191-199.
作者姓名:高智逊  马路路  邢华丹  赵煜乘  仇巍
作者单位:天津大学机械工程学院力学系天津大学;现代工程力学天津市重点实验室
基金项目:国家自然科学基金(11772223;11772227;61727810)资助
摘    要:提出一种通过量化几何转角实现应变测量的数字云纹新方法。该方法以高分辨透射电镜(TEM)获取的晶格图像为基础,通过傅立叶变换-反傅里叶变换,将TEM晶格图像生成三个不同倾角的栅线图。以已知应变状态位置获取的TEM栅线图为参考栅,以所需测量位置获得的栅线图为试件栅,分别对倾角接近的参考栅与试件栅进行逻辑运算,得到各倾角栅对应的数字云纹图像。基于几何云纹基本原理,建立参考栅与试件栅二者之间栅线倾角的变化(即栅线转角θ)、该栅线倾角所对应几何云纹条纹的倾角与栅线间距变化率(即栅线法向应变分量ε)之间的解析关系。计量栅线转角与几何云纹条纹的倾角便能够得到试件栅位置上三个不同方向的正应变,从而实现面内应变各分量的解耦测量。由于本方法获得的是高分辨TEM图像所在位置的应变平均信息,因此具有十纳米量级的空间分辨率。本文采用模拟实验对以上方法的正确性进行了验证,并将其应用于多层异质半导体结构横截面样品的应变分析,并给出了面内应变各分量的细节信息。

关 键 词:晶格图像  高分辨透射电镜(TEM)  数字云纹  应变测量  栅线转角  条纹倾角
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号