| 时间序列散斑干涉技术的发展及应用 |
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| 引用本文： | 李喜德.时间序列散斑干涉技术的发展及应用[J].实验力学,2002,17(3):279-283. |
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| 作者姓名： | 李喜德 |
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| 作者单位： | 清华大学工程力学系,北京,100084 |
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| 基金项目： | 自然科学基金项目 10 0 72 0 3 1，教育部高等学校访问学者基金资助 |
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| 摘 要： | 当用相干光照射一个连续变形的漫射物体表达时，由漫射物体表面散射所形成的物光与一参考光干涉，在其干涉的区域即可形成一随时间变化的散斑场，连续采集这一时变散斑场，并通过时间域分析，即可获得被测物质表面所对应的时变位移场，本文在作者研究的基础上，介绍序列散斑计量技术中所发展起来的几种计量方法，探讨它们的计量特性及其发展方向，并同时给出这些计量方法在时变场检测中的一些应用成果。
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| 关 键 词： | 散斑干涉 时间序列分析 相位测量 相干光 光学计量 时变场 |
| 文章编号： | 1001-4888(2002)03-0279-05 |
| 修稿时间： | 2002年7月9日 |
Progress of Time-Sequence Speckle Metrology and its Applications |
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| LI Xi,de.Progress of Time-Sequence Speckle Metrology and its Applications[J].Journal of Experimental Mechanics,2002,17(3):279-283. |
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| Authors: | LI Xi de |
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| Abstract: | If a laser beam illuminates a continual deformation object surface, it will lead to a temporal speckle pattern on the observation plane. Recording this time dependent speckle pattern the surface deformation of the object can be obtained. In this paper, the new developed methods in temporal speckle pattern interferometry (TSPI) have been introduced and their performance in temporal measurements is investigated. Finally, the applications of different measurement methods in TSPI are also presented. |
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| Keywords: | speckle interferometry time sequence analysis phase measurement deformation |
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