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原子力/摩擦力显微图象的分析与测量
引用本文:王吉会.原子力/摩擦力显微图象的分析与测量[J].摩擦学学报,1998,18(1):60-65.
作者姓名:王吉会
作者单位:清华大学摩擦学国家重点实验室
基金项目:国家自然科学基金,中国博士后科学基金,清华大学摩擦学国家重点实验室开放基金
摘    要:用表面粗糙度评定方法和分形几何方法,结合原子力/摩擦力显微图象的特点,编制了包括Ra,Rq,Sm,S,λa,λq及高度分布、承载率曲线、相关函数、功率谱和分形维数等参数的图象分析与测量的FORTRAN程序;用STR-180和STR-1000标样作了高度标定,对国产Nature磁带和进口Sony磁带的原子力/摩擦力显微图象进行了分析测量.结果表明:Nature磁带的粗糙度和粒度均比Sony磁带的大;微摩擦力与表面轮廓及表面轮廓斜率之间均有良好的对应关系.

关 键 词:原子力  摩擦力  显微镜  纳米测量  图象分析

Analysis and Measurement of AFM/FFM Image
Wang Jihui,Lu Xinchun,Qian Linmao,Shi Bing,Wen Shizhu.Analysis and Measurement of AFM/FFM Image[J].Tribology,1998,18(1):60-65.
Authors:Wang Jihui  Lu Xinchun  Qian Linmao  Shi Bing  Wen Shizhu
Institution:State Key Laboratory of Tribology Tsinghua University Beijing 100084 China
Abstract:
Keywords:AFM/FFM  nano  scale measurement  image analysis  microtopography  
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