| 光电探测组件电源抑制比测试方法 |
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| 引用本文： | 潘雄,宋舒雯,张少博,王磊,宋凝芳.光电探测组件电源抑制比测试方法[J].中国惯性技术学报,2018(1). |
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| 作者姓名： | 潘雄 宋舒雯 张少博 王磊 宋凝芳 |
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| 作者单位： | 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院 |
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| 摘 要： | 抑制电磁干扰是解决光纤陀螺尤其是轻小型光纤陀螺低速灵敏度的关键问题,为了从电源完整性角度研究光纤陀螺检测电路干扰传导特性,需要对光电探测组件的电源抑制比进行测试。针对光纤陀螺微弱信号检测的特点,提出一种基于锁相放大器的光电探测组件电源抑制比测试方案,通过测量普通运算放大器的电源抑制比并与手册给定的典型值进行对比,校验了测试系统的准确性。以中低精度光纤陀螺调制-解调频率范围为例,利用该测试系统测量了光电探测组件100 k Hz~3 MHz内电源抑制比频率特性曲线。实验结果表明,光电探测组件的电源抑制比呈明显的高通特性,在100 k Hz频率点处+PSRR约为29.5 d B,到达3 MHz处衰减为17.8 d B,为后续计算电源传导干扰抑制要求和优化电源退耦网络提供了依据。
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| 关 键 词： | 电源完整性 电源抑制比 锁相放大 光电探测组件 光纤陀螺 |
Test method of power supply rejection ratio of PIN-FET module |
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