| 集成电路测试技术与应用 |
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| 引用本文： | 谷健,田延军,史文,张晓黎.集成电路测试技术与应用[J].中国惯性技术学报,2002,10(1):60-64. |
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| 作者姓名： | 谷健 田延军 史文 张晓黎 |
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| 作者单位： | 天津航海仪器研究所,天津,300131 |
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| 摘 要： | 通过对IMS公司生产的集成电路测试系统ATS的描述，讨论了集成电路（IC）的测试技术及其在ATS上的应用方法，并以大规模集成电路芯片8255为例，给出一种芯片在该集成电路测试系统上从功能分析到具体测试的使用过程。
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| 关 键 词： | 集成电路 测试 芯片8255 元器件老化筛选测试 |
| 文章编号： | 1005-6734(2002)01-0060-05 |
| 修稿时间： | 2001年12月10 |
Technique and Application of IC testing |
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| GU Jian,TIAN Yan-jun,SHI Wen,ZHANG Xiao-Li.Technique and Application of IC testing[J].Journal of Chinese Inertial Technology,2002,10(1):60-64. |
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| Authors: | GU Jian TIAN Yan-jun SHI Wen ZHANG Xiao-Li |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | IC testing application |
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