首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      


Interface properties,physical and electrical characterization of sputtered TaAlO x on silicon-passivated n-GaAs substrates
Authors:P S Das  Abhijit Biswas
Institution:1. Institute of Radiophysics and Electronics, University of Calcutta, 92 A. P. C. Road, Kolkata, 700009, India
Abstract:
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号