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| 偏光显微镜实验一点改进 碎粒晶片配制方法及其实验效果 | |
| 引用本文： | 张圣海.偏光显微镜实验一点改进 碎粒晶片配制方法及其实验效果[J].大学物理,1984(7). |
| 作者姓名： | 张圣海 |
| 作者单位： | 长春地质学院 |
| 摘 要： | 引言 近代物理实验大纲订有偏光显微镜题目.做偏光显微镜实验,一要有偏光显微镜,国产偏光显微镜(如XPT-6型)能满足要求;二要有晶片(即加工晶片),这是个关键问题,通常要由专问单位来加工,一般学校又没有这种条件.由于缺乏晶片,要做偏光显微镜实验就有困难.我们用碎粒法配制成晶片(即碎粒晶片),解决了加工晶片的困难,基本满足了偏光显微镜实验的要求.我们在实验教学中,要求学生用自己配制的晶片进行实验,这样作不仅使实验教学生动活泼,引起了学生对物理实验的兴趣,同时也培养了学生的实验技能和分析问题解决问题的能力.一碎粒晶片配制方法 … |
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