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用半导体微位移传感器测量磁致伸缩系数
引用本文:倪敏,张一帆,郑源明,董琳,赵彩安.用半导体微位移传感器测量磁致伸缩系数[J].大学物理,2017,36(9).
作者姓名:倪敏  张一帆  郑源明  董琳  赵彩安
作者单位:1. 上海师范大学数理学院,上海,200234;2. 复旦天欣科教仪器有限公司,上海,200433
摘    要:简述磁致伸缩及其参数测量原理,设计了用半导体应变计取代常用的铝丝电阻应变片,研制成新型的半导体微位移传感器,并用标准长度量具对微位移传感器进行定标,从而直接测量出材料在磁场中微小长度变化量.既解决了原先教学实验不能随意更换样品的麻烦,又提高了测量的灵敏度和精确度,准确测得多种材料的磁致伸缩系数曲线.

关 键 词:半导体应变片  磁致伸缩  半导体微位移传感器

Semiconductor micro-displacement sensor using magnetostrictive coefficient
NI Min,ZHANG Yi-fan,ZHENG Yuan-ming,DONG Lin,ZHAO Cai-an.Semiconductor micro-displacement sensor using magnetostrictive coefficient[J].College Physics,2017,36(9).
Authors:NI Min  ZHANG Yi-fan  ZHENG Yuan-ming  DONG Lin  ZHAO Cai-an
Abstract:
Keywords:
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