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采用全面最小二乘法测量开口箱扬声器系统低频特性参数
引用本文:徐柏龄,魏勇.采用全面最小二乘法测量开口箱扬声器系统低频特性参数[J].声学学报,1996(3).
作者姓名:徐柏龄  魏勇
作者单位:南京大学声学研究所,南京邮电学院
摘    要:本文分析并建立了开口箱扬声器系统的自回归平均(ARMA)模型参数与低频特性参数的关系,采用全面最小二乘(TLS)法辨识开口箱扬声器系统的ARMA模型参数,从而在时域上测出了开口箱扬声器系统的低频特性参数、阻抗曲线和低频响应曲线,取得了较好的结果。

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