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| 干涉法确定晶体压电坐标轴的正向 | |
| 引用本文： | 尹鑫,邵宗书.干涉法确定晶体压电坐标轴的正向[J].物理,1988(5). |
| 作者姓名： | 尹鑫 邵宗书 |
| 作者单位： | 山东大学晶体材料研究所 (尹鑫)，山东大学晶体材料研究所(邵宗书) |
| 摘 要： | 在测量晶体的压电系数时,首先要根据文献1]的规定选定晶体的压电坐标系,同时还要确定实际晶体压电坐标轴的正向,方能测定晶体的压电系数及确定其正负号.为了准确、迅速地确定坐标轴的正向,我们利用晶体的反压电效应,采用干涉法进行了测量.这种方法迅速、准确、直观、且不破坏样品. 一、实验装置和测试原理 干涉法确定晶体压电坐标轴正向的实验装置如图1所示. 它的主体部分是一台泰曼干涉仪.将干涉仪分束后的一束光,通过一个45°反射镜垂直反射到干涉仪的台面上,在台面上装一样品台,样品台可通过调节微调螺丝在铅直方向上下移动.样品台上的… |
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