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| 质量为17keV的中微子的新证据 | |
| 引用本文： | 孙汉城.质量为17keV的中微子的新证据[J].物理,1992,21(1):62-62,31. |
| 作者姓名： | 孙汉城 |
| 摘 要： | 1985年,加拿大Guelph大学J.Simpson发现,用注有氚的Si(Li)半导体探测器测量氚 β 衰变能谱,在能谱的低能区有一个扭曲.这可以解释为,每100次β衰变过程中约有一次产生质量为17keV的重中微子.可是,随后有五个以上的实验室用其他核素或其他方法都未能找到这种重中微子.因此,大多数理论家都不相信有这种中微子. 1988年,Simpson和他的学生A.Hime用改进的探测器测了氖与35S的β谱,证实是有1%的中微子是17keV的重中微子. 最近几个月出现了激动人心的新情况.有五个新实验结果发表,其中四个支持Simpson的发现,只有一个实验没有找到重中微子. 这… |
| 关 键 词： | 中微子 β衰变 能谱 韧致辐射 氚 |
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