放射性同位素荧光分析法测铅 |
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引用本文: | 张家骅,张达明,李玉君,冯天碧,胡序胜.放射性同位素荧光分析法测铅[J].物理,1974(2). |
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作者姓名: | 张家骅 张达明 李玉君 冯天碧 胡序胜 |
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作者单位: | 上海原子核研究所
(张家骅,张达明,李玉君,冯天碧),上海原子核研究所(胡序胜) |
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摘 要: | 放射性同位素检测仪表是原子能技术在国民经济中应用的重要领域.除了使用较早的厚度计、密度计、物位计、流量计、湿度计、真空计、继电器等之外,近年来,以放射性同位素作为激发源的荧光分析仪,在物质成份的分析方面也应用得愈来愈多.我们上海原子核研究所近年来在这方面也做了一点工作.下面就对这种仪器的原理、特点作一些简要的介绍. 一 原理及装置 当原子受到合适的初级射线源激发,会发出具有某些特征能量值的x射线(此种次级射线即称为荧光).由于特征x射线的能量取决于该元素的原子结构,因此测得某特征x射线的能量就可作该元素的定性分析…
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