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薄膜层状外延生长的光学原位实时监测方法
引用本文:陈凡.薄膜层状外延生长的光学原位实时监测方法[J].物理,1999,28(8):500-504.
作者姓名:陈凡
作者单位:中国科学院物理研究所
摘    要:综述了几种用于监控薄膜外延生长的光学原位实时监测方法的进展。其中光反射差法/光反射各向异性谱(RDS/RAS)和p偏振反射谱(PRS),表面光吸收(SPA),椭偏仪(SE)等。在外延过程中已观测到了薄膜层状外延周期振荡。

关 键 词:薄膜  层状外延生长  光学原位  实时监测

INSITU REAL TIME OPTICAL MONITORING OF THIN FILM LAYERBYLAYER EPITAXIAL GROWTH
Abstract:Variation methods of in-situ real time optical monitoring of thin film layer-by-layer epitaxial growth are presented.Oscillations have been observed by reflectance difference spectroscopy/reflectance anisotropy spectroscopy p-polarized reflectance spectroscopy,surface photon absorption and ellipsometry during the epitaxial growth.
Keywords:thin film  layer-by-layer epitaxial growth  in-situ real time optical monitoring
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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