| 掠出射X射线荧光分析 |
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| 引用本文： | 巩岩,陈波,尼启良,曹建林,王兆岚.掠出射X射线荧光分析[J].物理,2002,31(3):167-170. |
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| 作者姓名： | 巩岩 陈波 尼启良 曹建林 王兆岚 |
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| 作者单位： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室,长春,130022 |
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| 基金项目： | 应用光学国家重点实验室基金 (批准号 :DA0 0Q0 2D)资助项目 |
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| 摘 要： | 掠出射X射线荧光分析技术是全反射X射线荧光分析技术的延伸和发展，文章介绍了掠出射X射线荧光分析技术的形式，特点，基本原理和作者在实验室搭建的实验装置，简述了掠出射X射线荧光分析技术的发展史，以及该技术在化学元素微量和痕量分析及薄膜特性分析等领域中的应用，展望了这种技术今后的发展前景。
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| 关 键 词： | 掠出射X射线荧光 荧光分析 全反射X射线荧光 痕量分析 实验装置 化学元素 微量分析 薄膜 特性分析 |
| 修稿时间： | 2001年8月20日 |
Grazing-Exit X-ray Fluorescence Analysis |
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| GONG Yan,CHEN Bo,NI Qi-Liang,CAO Jian-Lin,WANG Zhao-Lan.Grazing-Exit X-ray Fluorescence Analysis[J].Physics,2002,31(3):167-170. |
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| Authors: | GONG Yan CHEN Bo NI Qi-Liang CAO Jian-Lin WANG Zhao-Lan |
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| Abstract: | Grazing-exit X-ray fluorescence analysis (GEXRF) is the extension and development of total reflection X-ray fluorescence analysis technology. Its method, characteristics, basic principles and the experimental apparatus that we set up in the lab are presented. Its history and applications in the field of trace and ultra-trace determination and thin layer analysis are briefly described, with special mention of the analysis of light elements by GEXRF with a wavelength-dispersion detector. |
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| Keywords: | grazing-exit X-ray fluorescence X-ray fluorescence analysis total reflection X-ray fluorescence (TXRF) trace analysis |
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