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| 光的干涉的应用 | |
| 引用本文： | 张德霈.光的干涉的应用[J].物理,1960(6). |
| 作者姓名： | 张德霈 |
| 作者单位： | 北京师大物理系 |
| 摘 要： | 在科学和技术領域中,人們不断地利用着光的干涉原理解决了許多复杂的实际問題。例如在技术中对于光学表面磨光的检驗,光学部件质量的精密检定,长度微小改变的精密測定(干涉膨胀仪),增透光薄膜的制作,干涉滤光片的制作,軸承滾珠的分类和检驗等等。此外,对于光譜譜线精細結构的研究,物貭折射率的精密测定等也都逐渐轉入利用光的干涉方法来进行。由于光的干涉的应用是如此之广,因而对光干涉应用的各个方面作一全盘介紹显然是很难作到的,故仅就几个重要应用方面作一初步介紹。一、利用光的干涉检定螺旋測微器(千分尺) 在測微器的待量度的平面之間夹入一已知其厚度 |
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