基于扫描探针技术的超分辨光学成像和谱学研究进展 |
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引用本文: | 薛孟飞,陈佳宁.基于扫描探针技术的超分辨光学成像和谱学研究进展[J].物理,2019(10). |
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作者姓名: | 薛孟飞 陈佳宁 |
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作者单位: | 中国科学院物理研究所;中国科学院大学物理学院;北京凝聚态物理国家实验室;松山湖材料实验室 |
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摘 要: | 通过对光与物质相互作用产生的各种效应的研究可以获得物质的组分、结构、电学、力学、相互作用等信息,因此光学激发和探测技术成为现代科学研究的重要工具。然而衍射效应将光学探测的最小空间尺度约束在波长量级,这严重限制了光学对微观结构的探测。近年来基于扫描探针显微镜发展而来的近场光学显微镜利用光学天线对光场的局域和增强作用,将光学探测的分辨率推进到10 nm的尺度。文章将介绍目前一种主流的光学超分辨技术——散射式扫描近场光学显微镜及其在材料科学和生命科学方面的前沿研究进展。
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