首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

基于InP材料的纳米光栅耦合器的耦合效率分析
引用本文:刘耀英,薛晨阳,崔晓文,崔丹凤,韦丽萍,王永华,李艳娜.基于InP材料的纳米光栅耦合器的耦合效率分析[J].量子光学学报,2014(4).
作者姓名:刘耀英  薛晨阳  崔晓文  崔丹凤  韦丽萍  王永华  李艳娜
作者单位:中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室;电子测试技术重点实验室;
基金项目:国家自然科学基金(61275166;61076111)
摘    要:设计了一种基于InP材料的纳米光栅耦合器,运用FDTD算法分析了周期长度、刻蚀深度以及占空比变化时该光栅耦合器的耦合效率。计算结果表明,周期长度为800nm,刻蚀深度为0.3μm,占空比接近0.5时,耦合效率可以达到13%。本文所设计的光栅耦合器对构建基于InP材料的谐振腔、激光器和陀螺结构具有一定的理论指导意义。

关 键 词:InP材料  光栅  FDTD算法  耦合效率
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号