|
|||||
|
|
| 用双介质法测定金属薄膜的厚度和光学常数 | |
| 引用本文： | 杨傅子,曹庄琪,方俊鑫.用双介质法测定金属薄膜的厚度和光学常数[J].光学学报,1986(10). |
| 作者姓名： | 杨傅子 曹庄琪 方俊鑫 |
| 作者单位： | 上海交通大学应用物理系 (杨傅子，曹庄琪)，上海交通大学应用物理系(方俊鑫) |
| 摘 要： | 用角度扫描衰减全反射方法(ATR),激励金属和两种介质界面处的表面等离子激元波(SPW)通过这些表面等离子激元波和介质折射率的关系同时确定了金属薄膜的厚度和光学常数.实验结果和理论分析相符. |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |