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Er2O3薄膜的光学常数和介电性能
引用本文:刘传标,魏爱香,刘毅.Er2O3薄膜的光学常数和介电性能[J].光学学报,2009,29(6).
作者姓名:刘传标  魏爱香  刘毅
作者单位:1. 广东工业大学材料与能源学院,广东,广州,510060
2. 深圳大学物理科学与技术学院,广东,深圳,518060
基金项目:广东工业大学人才引进基金 
摘    要:采用射频磁控反应溅射技术,在不同的Ar/O2流量比条件下制备了系列Er2O3薄膜样品.采用椭偏光谱和紫外一可见光透射光谱测试分析技术,研究了Er2O3薄膜的折射率、消光系数、透射率和光学带隙等光学常数与制备工艺的关系.研究了不同条件下制备的Er2O3薄膜的介电常数和Ⅰ~Ⅴ特性.结果表明,Er2O3薄膜的折射率、禁带宽度和介电常数随Ar/O2流鼍比的增加而增加,而消光系数基本不随Ar:O2流量比的变化而变化.在Ar:O2流量比为7:1制备的Er2O3薄膜具有较好的物理性能,在可见红外波段其折射率约1.81,消光系数为3.7×10-6,禁带宽度5.73 eV,介电常数为10.5.

关 键 词:薄膜光学  氧化铒薄膜  磁控反应溅射  光学常数  介电性能

Optical Constant and Dielectric Properties of Erbium Oxide Thin Films
Liu Chuanbiao,Wei Aixiang,Liu Yi.Optical Constant and Dielectric Properties of Erbium Oxide Thin Films[J].Acta Optica Sinica,2009,29(6).
Authors:Liu Chuanbiao  Wei Aixiang  Liu Yi
Abstract:
Keywords:
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