光栅鉴定会简讯 |
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引用本文: | 王国华
,祝绍箕.光栅鉴定会简讯[J].光学学报,1981(4). |
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作者姓名: | 王国华 祝绍箕 |
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摘 要: | 上海光学仪器工业公司于1980年12月召开了由上海光学仪器研究所研制成功的光栅成果鉴定会。出席会议的有国家仪器仪表总局、上海市科学技术委员会、上海市仪表局及来自全国各地的科研单位、高等院校和工厂等共30个单位,59名代表。 提供鉴定的项目有:每毫米2400槽的全息凹面光栅(Ⅰ型);近红外光栅;金属基底刻划红外光栅;每毫米125条、500毫米长的刻划计量光栅;每毫米100条和125条、300毫米长的复制计量光栅等科研成果。这次鉴定会主要特点是:鉴定的项目多,而且大部分是国内科研生产急需而又空白的品种。
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