硅光电二极管自校准技术的理论分析与实验结果 |
| |
引用本文: | 李同保.硅光电二极管自校准技术的理论分析与实验结果[J].光学学报,1982(5). |
| |
作者姓名: | 李同保 |
| |
作者单位: | 中国计量科学研究院大邑分院 |
| |
摘 要: | 本文在论述影响硅光电二极管外量子效率诸因素的基础上,着重讨论了器件的收集效率,给出了确定器件外量子效率的一般公式和简化公式。对三个器件进行了自校准实验,确定外量子效率的不确定度在±0.05%,三个器件测量激光束功率的一致性在±0.05%,与现有的绝对辐射计测量结果符合在0.2%。
|
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
|