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星上定标衰减屏特性的测试方法
引用本文:汪伟,张黎明,黄文薪,杨宝云,王戟翔,许和鱼,包诗薇.星上定标衰减屏特性的测试方法[J].光学学报,2018(9).
作者姓名:汪伟  张黎明  黄文薪  杨宝云  王戟翔  许和鱼  包诗薇
作者单位:中国科学院安徽光学精密机械研究所通用光学定标与表征技术重点实验室;中国科学技术大学
摘    要:介绍了一套测量太阳光衰减屏透过率的测量装置。该装置需要测量两组数据:安装太阳光衰减屏和不安装太阳光衰减屏透过的信号值,通过求两者在相同几何条件下比值的方式得出了衰减屏的透过率。提出采用多项式拟合插值的方式解决在轨角度密集的问题,计算可知拟合插值引入的不确定度优于0.04%。数据结果显示,衰减屏的平均透过率为13.3%,结果的总不确定性优于0.54%(覆盖因子k=2)。结果表明,该装置能够为太阳光衰减屏在轨使用提供数据支持。

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