光学相干域偏振测量技术及其在高精度光纤陀螺器件测量中的应用 |
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引用本文: | 杨军,苑勇贵,喻张俊,李寒阳,侯长波,张浩亮,苑立波.光学相干域偏振测量技术及其在高精度光纤陀螺器件测量中的应用[J].光学学报,2018(3). |
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作者姓名: | 杨军 苑勇贵 喻张俊 李寒阳 侯长波 张浩亮 苑立波 |
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作者单位: | 哈尔滨工程大学纤维集成光学教育部重点实验室;哈尔滨工程大学理学院;哈尔滨工程大学信息与通信工程学院;桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 |
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摘 要: | 光学相干域偏振测量(OCDP)技术是一种基于白光干涉原理,利用保偏光纤器件和组件中的偏振传输模式之间存在的能量耦合(偏振串扰)实现分布式偏振特性精确表征的测试方法,具有超高偏振测量灵敏度(偏振串扰为-100~-90dB)、高空间分辨率(5~10cm)、超宽测量动态范围(10~9~10~(10))和长光纤测量距离(数千米)等优点,可以满足包括光纤陀螺核心器件和光路在内的保偏光纤器件与组件的超高偏振性能测试需求。回顾OCDP原理与关键技术,包括分布式偏振串扰的测试原理与精确建模方法以及OCDP仪器化若干关键技术;展示OCDP技术在超高消光比集成波导调制器、超长陀螺敏感环定量测试与诊断、评估中的应用;针对高性能光纤传感器复杂多变的应用环境,展望OCDP技术在高精度光纤陀螺的核心器件与整机光路测试中未来的发展方向。
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