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| 单发次测量软X射线多层膜分束镜光学特性实验 | |
| 引用本文： | 孙今人,方智恒,王琛,王伟,吴江,傅思祖,顾援,王世绩.单发次测量软X射线多层膜分束镜光学特性实验[J].工程物理研究院科技年报,2003(1):119-120. |
| 作者姓名： | 孙今人 方智恒 王琛 王伟 吴江 傅思祖 顾援 王世绩 |
| 摘 要： | 用X射线激光作为探针，探测激光等离子体临界面附近的电子密度，对惯性约束聚变(ICF)的研究具有很大的应用价值。2003年11月，在“神光”Ⅱ装置上进行的X射线激光干涉法诊断等离子体电子密度实验研究取得了重大进展：利用类镍-银X射线激光作为探针，采用分束镜分光的马赫-贞德尔干涉仪在国内首次拍摄到清晰的动态干涉图。 |
| 关 键 词： | X射线激光 激光等离子体 电子密度 干涉法 马赫-贞德尔干涉仪 |
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