激光辐照TiO2/SiO2薄膜损伤时间简捷测量 |
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引用本文: | 周维军,袁永华,桂元珍.激光辐照TiO2/SiO2薄膜损伤时间简捷测量[J].工程物理研究院科技年报,2008(1). |
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作者姓名: | 周维军 袁永华 桂元珍 |
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摘 要: | 随着激光技术的快速发展,激光功率有了很大的提高,这对于光电探测系统来说是一个致命的威胁。任何一种薄膜在激光功率超过薄膜的损伤阈值时,薄膜就被破坏,光电系统就要面临失效。目前尚未见薄膜损伤时间测量的报道。文中研究不同功率激光辐照薄膜的损伤时间。
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关 键 词: | 薄膜损伤 TiO2/SiO2 时间测量 激光辐照 激光功率 光电探测系统 激光技术 损伤阈值 |
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