高能轫致辐射光源参量及测量原理 |
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引用本文: | 施将君,肖智强,李必勇,刘军,刘进.高能轫致辐射光源参量及测量原理[J].工程物理研究院科技年报,2004(1):248-249. |
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作者姓名: | 施将君 肖智强 李必勇 刘军 刘进 |
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摘 要: | 准确提供高能闪光照相中光源参量对闪光图像的品质有重要意义。文中使用解析分析法和X射线输运的MC法讨论了源能谱、1m处照射量、光源照射量角分布和光源有效尺寸的测量方法和测量原理。阐明了对电子束和束斑尺寸的联合限制条件,以确保小角度内照射量分布的均匀性高于95%。对于MeV级光源,证明了传统的小孔法和狭缝法不能直接用来确定光源的有效尺寸,而轫边法能直接提供所需要的结果。
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关 键 词: | 高能闪光照相 辐射光源 测量原理 解析分析法 照射量 测量方法 MC法 X射线 |
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