球形薄壁工件超声检测用扫查装置

经过与γ射线探伤比较，决定采用超声波探伤进行球形薄壳件检测。超声波对缺陷的检出能力与缺陷的取向密切相关，为实现对多种取向缺陷的检出，超声束需由多个方向射入工件。为此，要求在检测过程中探头可以进行多种方式运动，要实现这一点，就必须建立适当的扫查装置。