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| 高能闪光照相中陡坡准直体成像性能实验 | |
| 引用本文： | 肖智强,刘军,胡八一,刘瑞根.高能闪光照相中陡坡准直体成像性能实验[J].工程物理研究院科技年报,2008(1). |
| 作者姓名： | 肖智强 刘军 胡八一 刘瑞根 |
| 摘 要： | 高能（20MeV）闪光X光照相技术在国防科研中有广泛的应用背景。FTO样品是由高密度、高原子序数材料组成的大光程4层同心球壳组件，是专门用于考察闪光照相成像质量的静态测试样品。对FTO样品进行闪光照相时，散射非常严重，因此选择合适的准直方式来降低散射对清晰图像的获得非常重要。研究表明，散射主要来自于后防护锥和FTO样品自身，样品散射又主要是由于外层的轻物质引起的，因此减小射向后锥和样品外层区域的X射线照射量，从源头上降低散射产生的机会，就成了准直设计中优先考虑的技术措施， |
| 关 键 词： | 高能闪光照相 成像质量 性能实验 准直 陡坡 X射线照射量 照相技术 FTO |
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