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射线底片中的缺陷定量技术
引用本文:孙朝明,徐彦霖,王增勇.射线底片中的缺陷定量技术[J].工程物理研究院科技年报,2004(1):128-129.
作者姓名:孙朝明  徐彦霖  王增勇
摘    要:底片是射线检测的评判依据,但是容易受到环境的影响而发生变化(发霉、污损);生产中大量的底片也不便管理和查阅。将底片数字化,可以实现无失真存储,稳定性高,更便于交流和分析,利用数字图像处理技术可对缺陷进行定量分析。

关 键 词:射线底片  定量技术  缺陷  数字图像处理技术  射线检测  发生变化  定量分析  数字化
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