射线底片中的缺陷定量技术 |
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引用本文: | 孙朝明,徐彦霖,王增勇.射线底片中的缺陷定量技术[J].工程物理研究院科技年报,2004(1):128-129. |
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作者姓名: | 孙朝明 徐彦霖 王增勇 |
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摘 要: | 底片是射线检测的评判依据,但是容易受到环境的影响而发生变化(发霉、污损);生产中大量的底片也不便管理和查阅。将底片数字化,可以实现无失真存储,稳定性高,更便于交流和分析,利用数字图像处理技术可对缺陷进行定量分析。
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关 键 词: | 射线底片 定量技术 缺陷 数字图像处理技术 射线检测 发生变化 定量分析 数字化 |
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