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高功率激光薄膜及相关检测技术
引用本文:马平,胡建平,唐明,邱服民,王震,于杰.高功率激光薄膜及相关检测技术[J].工程物理研究院科技年报,2004(1):413-414.
作者姓名:马平  胡建平  唐明  邱服民  王震  于杰
摘    要:由于基频光最后需通过三倍频元件才注入靶室,因此三倍频薄膜元件的抗激光损伤能力,将直接制约系统的能量。三倍频紫外激光薄膜的质量也将是决定系统指标的关键因素之一。在制备紫外增透膜方面,我们在基片和膜堆之间加镀缓冲层,既实现了高透射率,又改善了膜层内的电场强度分布。多次实验表明,样品在小口径元件损伤测量平台上测得的零几率损伤阈值一般大于7/cm^2(355m,10s),折算到3S约4.6/cm^2,折算到1ns为3.13/cm^2。考虑到大光束的破坏结果和小光斑的测量结果不同,我们在星光装置上进行大光束轰击破坏实验。

关 键 词:激光薄膜  检测技术  高功率  薄膜元件  电场强度分布  激光损伤  系统指标  测量平台
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