高功率激光薄膜及相关检测技术 |
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引用本文: | 马平,胡建平,唐明,邱服民,王震,于杰.高功率激光薄膜及相关检测技术[J].工程物理研究院科技年报,2004(1):413-414. |
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作者姓名: | 马平 胡建平 唐明 邱服民 王震 于杰 |
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摘 要: | 由于基频光最后需通过三倍频元件才注入靶室,因此三倍频薄膜元件的抗激光损伤能力,将直接制约系统的能量。三倍频紫外激光薄膜的质量也将是决定系统指标的关键因素之一。在制备紫外增透膜方面,我们在基片和膜堆之间加镀缓冲层,既实现了高透射率,又改善了膜层内的电场强度分布。多次实验表明,样品在小口径元件损伤测量平台上测得的零几率损伤阈值一般大于7/cm^2(355m,10s),折算到3S约4.6/cm^2,折算到1ns为3.13/cm^2。考虑到大光束的破坏结果和小光斑的测量结果不同,我们在星光装置上进行大光束轰击破坏实验。
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关 键 词: | 激光薄膜 检测技术 高功率 薄膜元件 电场强度分布 激光损伤 系统指标 测量平台 |
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