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| 光斑矩参数阵列测试法的测量不确定度 | |
| 引用本文： | 高学燕,苏毅,何均章,袁学文,谢川林,周殿华,关有光,傅淑珍.光斑矩参数阵列测试法的测量不确定度[J].工程物理研究院科技年报,2003(1):226-226. |
| 作者姓名： | 高学燕 苏毅 何均章 袁学文 谢川林 周殿华 关有光 傅淑珍 |
| 摘 要： | 光斑强度分布的测试在目标跟踪检测、激光光束质量诊断和激光束波前测量等方面具有重要：意义。常用的光斑测试法有面阵CCD法、线阵CCD扫描法、单元探测器扫描法、热敏纸法以及针对某些特殊应用的各具特色的阵列测试设备法。这些方法最终都将给出探测面上光斑强度二维离散分布数据，故都可等效为阵列测试法。 |
| 关 键 词： | 光斑 强度分布 矩参数阵列测试法 不确定度 离散分布 |
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