静态次临界系统α值的分析 |
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引用本文: | 叶涛,张本爱,孙伟力.静态次临界系统α值的分析[J].工程物理研究院科技年报,2003(1):115-116. |
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作者姓名: | 叶涛 张本爱 孙伟力 |
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摘 要: | 为提高现有MC软件处理较深次临界度问题的能力,改进了‘虚产生’法对可调参数η的处理,并应用改进后的MC软件对静态次临界实验(981-2)数据作了理论分析,还同动态方法做了比较。这里所说“动态”方法,指通过MC方法直接模拟裂变系统内或泄漏中子数时间分布,用指数函数拟合源中子注人上升段后的数据的方法,相应的指数被认为是离散α本征值。在多个离散本征值中,原则上将数值最大的指数就是所谓衰减本征值,应同‘虚产生’法的结果一致,
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关 键 词: | 静态次临界 MC软件 离散α本征值 中子衰减 参数监测 |
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