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锂同位素质谱测量的几个问题
引用本文:魏兴俭.锂同位素质谱测量的几个问题[J].工程物理研究院科技年报,2003(1):338-339.
作者姓名:魏兴俭
摘    要:锂同位素的应用有赖于锂同位素丰度的准确测量。锂作为最轻的金属元素,在用热表面电离质谱法测量同位素丰度时,试样在蒸发过程中的质量分馏效应、仪器的质量歧视效应相当明显,再加上锂在蒸发电离时难以形成稳定的离子流,使得准确测量锂同位素丰度有很大难度。以至于目前,国内外尚无公认的锂同位素丰度质谱测量的最佳方法。

关 键 词:锂同位素  质谱测量  热表面电离质谱法  质量歧视效应
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