浅层目标亚波长声学成像新方法 |
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引用本文: | 毕亚峰.浅层目标亚波长声学成像新方法[J].应用声学,2014,33(1):15-15. |
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作者姓名: | 毕亚峰 |
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作者单位: | 北京海淀北四环西路21号 |
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摘 要: | 正声学成像是一种用来检测物质结构和成分的重要方法,其分辨率受限于衍射极限(diffraction limit)。为了获取更高的分辨率,往往需要测量高空间频率的声倏逝波(acoustic evanescent wave)。倏逝波带有物体的细节特征信息,离开天然材料物体后的衰减特性满足指数关系。近年来,科学家利用结构声学超常材料(structured acoustic metamaterials,AMM)克服衍射极限,通过增强倏逝波
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关 键 词: | 倏逝波 声学成像 亚波长 衍射极限 成像分辨率 声透镜 重要方法 各向异性 空间频率 结构声学 |
收稿时间: | 2013/12/22 0:00:00 |
修稿时间: | 1/2/2014 12:00:00 AM |
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