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浅层目标亚波长声学成像新方法
引用本文:毕亚峰.浅层目标亚波长声学成像新方法[J].应用声学,2014,33(1):15-15.
作者姓名:毕亚峰
作者单位:北京海淀北四环西路21号
摘    要:正声学成像是一种用来检测物质结构和成分的重要方法,其分辨率受限于衍射极限(diffraction limit)。为了获取更高的分辨率,往往需要测量高空间频率的声倏逝波(acoustic evanescent wave)。倏逝波带有物体的细节特征信息,离开天然材料物体后的衰减特性满足指数关系。近年来,科学家利用结构声学超常材料(structured acoustic metamaterials,AMM)克服衍射极限,通过增强倏逝波

关 键 词:倏逝波  声学成像  亚波长  衍射极限  成像分辨率  声透镜  重要方法  各向异性  空间频率  结构声学
收稿时间:2013/12/22 0:00:00
修稿时间:1/2/2014 12:00:00 AM
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