| 快速高精度电子元件温度特性测量仪的研制 |
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| 引用本文： | 王延,李阳,马德才,林少鹏,王彪.快速高精度电子元件温度特性测量仪的研制[J].应用声学,2016,24(3):285-288. |
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| 作者姓名： | 王延 李阳 马德才 林少鹏 王彪 |
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| 作者单位： | 中法核工程与技术学院 中山大学,中法核工程与技术学院 中山大学,中法核工程与技术学院 中山大学,中法核工程与技术学院 中山大学,中法核工程与技术学院 中山大学 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金项目（面上项目，重点项目，重大项目） |
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| 摘 要： | 大多数电子元器件的性能受到工作温度的影响,其温度特性对设备稳定性和精确度的影响不容忽视。以半导体致冷器(TEC)为核心,ATMega128A单片机为控制芯片,采用PT100、高精度恒流源和AD7731数模转换器(ADC)组成温度测量模块,运用改进的PID控制算法,以脉冲宽度调制(PWM)方式驱动优化的H桥精确控制加热和制冷功率,结合优化设计的变温腔体,制作了快速、高精度电子元件温度特性测量仪。在-10oC~80oC之间快速、稳定控制待测元件的温度,控温精度达到±0.2oC。通过计算机控制数字万用表等测量设备,测量了电阻、电容和电感的温度特性曲线。该测量仪还可以用于IC、三极管和LED等元器件的温度特性曲线研究。在实验研究、工业生产和电子实验教学中均具备很高的实用价值。
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| 关 键 词： | 半导体致冷器 单片机 温度特性曲线 |
| 收稿时间： | 9/9/2015 12:00:00 AM |
| 修稿时间： | 3/1/2016 12:00:00 AM |
Development of a Fast and High-precision Measuring Instrument of Temperature Characteristics for Electronic Components |
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| Wang Yanjun,Li Yang,Ma Decai,Lin Shaopeng and Wang Biao.Development of a Fast and High-precision Measuring Instrument of Temperature Characteristics for Electronic Components[J].Applied Acoustics,2016,24(3):285-288. |
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| Authors: | Wang Yanjun Li Yang Ma Decai Lin Shaopeng and Wang Biao |
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| Institution: | Sino French Institute of Nuclear Engineering and Technology, Sun Yat-sen University,Sino French Institute of Nuclear Engineering and Technology, Sun Yat-sen University,Sino French Institute of Nuclear Engineering and Technology, Sun Yat-sen University,,Sino French Institute of Nuclear Engineering and Technology, Sun Yat-sen University |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Thermoelectric Cooler Microcontroller temperature characteristics |
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