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超声低温测试系统及其应用
引用本文:张谦琳,吴昆裕,胡建恺,吴柏枚,陈兆甲.超声低温测试系统及其应用[J].应用声学,1987,6(3):19-22.
作者姓名:张谦琳  吴昆裕  胡建恺  吴柏枚  陈兆甲
作者单位:中国科学技术大学 (张谦琳,吴昆裕,胡建恺,吴柏枚),中国科学技术大学(陈兆甲)
摘    要:本文介绍用于超声实验的低温测试系统;可同时对衰减和声速进行测试,频率范围为5MHz—250MHz,声速测试精度为10~(-5)。列举的实验结果说明,该系统在4.2K至300K温度范围内,工作稳定,数据可靠。

关 键 词:低温测试  超声衰减  声速  低温恒温器  应用声学  中国科学技术大学  德银  防辐射屏  测温控温  真空室
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