首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

激光处理样品的辉光放电发射光谱表面逐层分析
引用本文:刘圣麟,张功杼.激光处理样品的辉光放电发射光谱表面逐层分析[J].光谱学与光谱分析,1992,12(5):35-40.
作者姓名:刘圣麟  张功杼
作者单位:中国进出口商品检验技术研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,上海工业大学 100025 北京,110015 沈阳,110015 沈阳,200072 上海
基金项目:国家自然科学基金,上海市高教局科技发展基金
摘    要:应用辉光放电发射光谱(GD-OES)对经过激光处理的材料进行了表面逐层分析,深度达371μm,得到了所有5种合金元素Fe、Cr、Ni、B和Si的含量随深度变化的分布曲线。

关 键 词:辉光放电  表面分析  逐层  激光

IN-DEPTH PROFILE ANALYSIS OF LASER TREATED SAMPLE SURFACE BY GLOW DISCHARGE OPTICAL EMISSION SPECTROSCOPY
LIU Shenglin China Import & Export Commodity Inspection Technology Institute, Beijing ZHANG Gongshu and REN Jianshi Shenyang Institute of Metal,Academia Sinica, Shenyang WANG Zhenshu Shanghai University of Technology, Shanghai.IN-DEPTH PROFILE ANALYSIS OF LASER TREATED SAMPLE SURFACE BY GLOW DISCHARGE OPTICAL EMISSION SPECTROSCOPY[J].Spectroscopy and Spectral Analysis,1992,12(5):35-40.
Authors:LIU Shenglin China Import & Export Commodity Inspection Technology Institute  Beijing ZHANG Gongshu and REN Jianshi Shenyang Institute of Metal  Academia Sinica  Shenyang WANG Zhenshu Shanghai University of Technology  Shanghai
Institution:LIU Shenglin China Import & Export Commodity Inspection Technology Institute,100025 Beijing ZHANG Gongshu and REN Jianshi Shenyang Institute of Metal,Academia Sinica,110015 Shenyang WANG Zhenshu Shanghai University of Technology,200072 Shanghai
Abstract:
Keywords:Glow discharge  Atomic emission spectrometry  Surface analysis  In-depth profile Laser  
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号