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| X射线荧光光谱法测定铁矿石和岩石中的低微量元素时基体成分影响的研究 | |
| 引用本文： | 陈远盘.X射线荧光光谱法测定铁矿石和岩石中的低微量元素时基体成分影响的研究[J].光谱学与光谱分析,1984(1). |
| 作者姓名： | 陈远盘 |
| 作者单位： | 冶金部地质研究所 |
| 摘 要： | 引言用X射线荧光光谱法测定试样中的主成分时,主要是用数学校正法来校正基体成分对分析结果的影响,然而用数学校正法来分析试样中的低微量元素是很困难的。大多数作者是采用散射内标法或加入内标法来校正基体效应。 |
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