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基于双边倾斜傅里叶干涉具的激光光谱探测技术研究
引用本文:余本国,王建中.基于双边倾斜傅里叶干涉具的激光光谱探测技术研究[J].光谱学与光谱分析,2010,30(6).
作者姓名:余本国  王建中
作者单位:中北大学信息与通信工程学院,山西,太原,030051
摘    要:为了在不改变静态傅里叶干涉具尺寸的基础上提高光谱分辨率,设计了双边倾斜傅里叶干涉具及等光程条纹展宽的方法。通过计算分析双边倾斜傅里叶干涉具空间产生光程差与传统干涉具光程差的关系,得到在整个干涉具尺寸不变的条件下,光谱分辨率提高到9.1cm-1,比同尺寸静态傅里叶干涉具提高了近8倍,并且不会因干涉条纹混叠而造成无法采集。采用BK7材料加工制成双边倾斜傅里叶干涉具,用6种不同波长的激光照射分析干涉条纹,实验结果显示干涉条纹会因反射位置增大而导致探测波长较长的激光时中心波长偏大,根据其满足线性变化的规律,拟合可知每1nm的激光波长变化造成0.0211nm的增大误差,经过标定后平均误差与传统干涉具接近,同时可以有效地提高静态干涉系统的光谱分辨率。

关 键 词:光谱探测  双边倾斜傅里叶干涉具  干涉条纹展宽  光谱标定

Research on Laser Spectrum Detecting Technology Based on the Bilateral-Wedges Fourier Interferometer
YU Ben-guo,WANG Jian-zhong.Research on Laser Spectrum Detecting Technology Based on the Bilateral-Wedges Fourier Interferometer[J].Spectroscopy and Spectral Analysis,2010,30(6).
Authors:YU Ben-guo  WANG Jian-zhong
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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