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Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索
引用本文:彭良强,魏成连,刘亚雯,张天保,吴强.Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索[J].光谱学与光谱分析,1998(1).
作者姓名:彭良强  魏成连  刘亚雯  张天保  吴强
作者单位:中国科学院高能物理研究所
基金项目:科学院“八五”重点项目,核分析技术开放实验室资助
摘    要:采用放射源241Am59.6keVγ射线分别激发金属Cr、Cr2O3和K2CrO4,用Si(Li)谱仪比较测量其Kx射线的能量。实验表明K2CrO4中CrKβ能峰相对于金属Cr有2.12±0.27eV的位移。

关 键 词:化学位移,X射线荧光,Si(Li)谱仪
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