第35届X射线会议

第35届X射线会议于1986年8月4日至8日的美国Denver大学召开,有各国代表335人参加,收到X射线荧光光谱分析方面的文章49篇,X射线衍射分析方面的文章42篇,另有28家X射线分析仪器厂家参加展出。会议报告将刊登在“X射线进展”一书中。