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一种基于MEMS微硅多狭缝分光光度计
引用本文:郝鹏,吴一辉,张平,刘永顺,张科,黎海文.一种基于MEMS微硅多狭缝分光光度计[J].光谱学与光谱分析,2009,29(6):1713-1716.
作者姓名:郝鹏  吴一辉  张平  刘永顺  张科  黎海文
作者单位:1. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033;中国科学院研究生院,北京,100039
2. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划),国家自然科学基会项目 
摘    要:研制出了一种采用后分光技术,微硅片多狭缝进行像元分割,硅光电二极管阵列为探测器的微型分光光度计.分析了光谱带宽对测试得到的溶液吸光度线性相关性的影响,讨论了分光前后狭缝宽度与分光光度计光谱带宽之间的关系,为分光光度计前后狭缝的设计提供了理论依据.采用MEMS(微机电系统)工艺制造出了体积小、精度高、厚度薄的一体式微硅片狭缝,并将其应用于分光光度计中.采用此分光光度计对线性吸光度溶液进行测试,结果表明线性相关系数大于0.999,说明所研制的采用微硅片狭缝的分光光度计具有高度线性相关性.

关 键 词:微硅狭缝  微型分光光度计  微光机电系统  光谱带宽
收稿时间:2008/2/6

A Micro-Silicon Multi-Slit Spectrophotometer Based on MEMS Technology
HAO Peng,WU Yi-hui,ZHANG Ping,LIU Yong-shun,ZHANG Ke,LI Hai-wen.A Micro-Silicon Multi-Slit Spectrophotometer Based on MEMS Technology[J].Spectroscopy and Spectral Analysis,2009,29(6):1713-1716.
Authors:HAO Peng  WU Yi-hui  ZHANG Ping  LIU Yong-shun  ZHANG Ke  LI Hai-wen
Institution:HAO Peng1,2,WU Yi-hui1,ZHANG Ping1,LIU Yong-shun1,ZHANG Ke1,LI Hai-wen11.National Key Lab of Applied Optics,Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics , Physics,Chinese Academy of Sciences,Changchun 130033,China2.Graduate University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100039,China
Abstract:A new mini-spectrophotometer was developed by adopting micro-silicon slit and pixel segmentation technology,and this spectrophotometer used photoelectron diode array as the detector by the back-dividing-light way.At first,the effect of the spectral bandwidth on the tested absorbance linear correlation was analyzed.A theory for the design of spectrophotometer's slit was brought forward after discussing the relationships between spectrophotometer spectrum band width and pre-and post-slits width.Then,the integ...
Keywords:Micro-silicon slit  Mini-spectrometer  MEMS  Spectral width  
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