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| 利用同步辐射形貌术研究晶体缺陷的实验方法探讨 | |
| 引用本文： | 牟其善,张杰,官文栎,彭祖建,李可,胡秀琴,刘希玲,路庆明,马长勤,王.利用同步辐射形貌术研究晶体缺陷的实验方法探讨[J].北京同步辐射装置,2001(2):145-148,. |
| 作者姓名： | 牟其善 张杰 官文栎 彭祖建 李可 胡秀琴 刘希玲 路庆明 马长勤 王 |
| 作者单位： | [1]山东大学化学院，济南250100 [2]山东教育学院数理系,济南250013 [3]中国科学院高能物理研究所，北京100039,济南250013 |
| 摘 要： | 利用同步辐射X射线形貌术研究晶体缺陷．是近年来发展起来的一种优良的实验方法．本文在研究LNP等晶体缺陷的同时，对这种实验方法进行了系统的探讨，讨论了散射光的消除、焦距的选择、样品的透明度与厚度、曝光的时间、底片的冲洗答问题．以及在缺陷研究中对晶体衍射的劳厄斑点的选取依据． |
| 关 键 词： | 同步辐射形貌术 晶体缺陷 实验方法 散射光 X射线衍射分析 劳厄斑点 |
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