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A wavelet-based method for multifractal image analysis. II. Applications to synthetic multifractal rough surfaces
Authors:N Decoster  SG Roux  A Arnéodo
Institution:(1) Centre de Recherche Paul Pascal, Avenue Schweitzer, 33600 Pessac, France, FR;(2) Climate & Radiation Branch, NASA's Goddard Space Flight Center, Greenbelt, Maryland 20771, USA, FR
Abstract:
Keywords:PACS  47  53  +n Fractals - 05  40  -a Fluctuations phenomena  random processes  noise  and Brownian motion - 07  05  Pj Image processing          - 68  35  Bs Surface structure  and topography
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