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A wavelet-based method for multifractal image analysis. II. Applications to synthetic multifractal rough surfaces
Authors:
N Decoster
SG Roux
A Arnéodo
Institution:
(1) Centre de Recherche Paul Pascal, Avenue Schweitzer, 33600 Pessac, France, FR;(2) Climate & Radiation Branch, NASA's Goddard Space Flight Center, Greenbelt, Maryland 20771, USA, FR
Abstract:
Keywords:
PACS
47
53
+n Fractals - 05
40
-a Fluctuations phenomena
random processes
noise
and Brownian motion - 07
05
Pj Image processing
- 68
35
Bs Surface structure
and topography
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