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Zn离子注入和退火对ZnO薄膜光学性能的影响
引用本文:袁兆林,祖小涛,薛书文,张晓艳,余华军,向霞,居勇峰.Zn离子注入和退火对ZnO薄膜光学性能的影响[J].强激光与粒子束,2007,19(11):1918-1922.
作者姓名:袁兆林  祖小涛  薛书文  张晓艳  余华军  向霞  居勇峰
作者单位:电子科技大学 物理电子学院, 成都 610054
基金项目:教育部高等学校博士学科点专项科研基金,教育部跨世纪优秀人才培养计划
摘    要: 利用溶胶凝胶方法在石英玻璃衬底上制备了ZnO薄膜,将能量56 keV、剂量1×1017 cm-2的Zn离子注入到薄膜中。离子注入后,薄膜在500~900 ℃的氩气中退火,利用X射线衍射谱、光致发光谱和光吸收谱研究了离子注入和退火对ZnO薄膜结构和光学性质的影响。结果显示:衍射峰在约700 ℃退火后得到恢复;当退火温度小于600 ℃时,吸收边随着退火温度的提高发生蓝移,超过600 ℃时,吸收边随着退火温度的提高发生红移;近带边激子发光和深能级缺陷发光都随退火温度的提高而增强。

关 键 词:ZnO薄膜  离子注入  退火温度  吸收  光致发光
文章编号:1001-4322(2007)11-1918-05
收稿时间:2007-04-23
修稿时间:2007-09-29

Effects of Zn ion implantation and post-thermal annealing on ZnO thin films
YUAN Zhao-lin,ZU Xiao-tao,XUE Shu-wen,ZHANG Xiao-yan,YU Hua-jun,XIANG Xia,JU Yong-feng.Effects of Zn ion implantation and post-thermal annealing on ZnO thin films[J].High Power Laser and Particle Beams,2007,19(11):1918-1922.
Authors:YUAN Zhao-lin  ZU Xiao-tao  XUE Shu-wen  ZHANG Xiao-yan  YU Hua-jun  XIANG Xia  JU Yong-feng
Institution:School of Physical Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China
Abstract:作者简介:联系作者:祖小涛,xtzu@uestc.edu.cn.
Keywords:ZnO thin films  Ion implantation  Annealing temperature  Absorption  Photoluminescence
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