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| GeⅩⅩ～GeⅩⅩⅥ谱线的测量和辨认 | |
| 引用本文： | 黄文忠,何绍堂,韩红军,方泉玉,陈国兴.GeⅩⅩ～GeⅩⅩⅥ谱线的测量和辨认[J].强激光与粒子束,1994(3). |
| 作者姓名： | 黄文忠 何绍堂 韩红军 方泉玉 陈国兴 |
| 作者单位： | 西南核物理与化学研究所，北京应用物理与计算数学研究所 |
| 摘 要： | 测量了线聚焦激光加热锗等离子体发射的ＸＵＶ光谱，对ＧｅＸＸ～ＧｅＸＸⅥ谱线进行了辨认和分类。给出了谱线波长和相对强度；计算了辐射跃迁几率和吸收振子强度；并与其它实验室有关结果进行了比较。 |
| 关 键 词： | 激光等离子体，XUV光谱，谱线辨认 |
THE XUV SPECTRA IN LASER-PRODUCED Ge PLASMAS |
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| Huang Wenzhong, He Shaotang and Han Hondun.THE XUV SPECTRA IN LASER-PRODUCED Ge PLASMAS[J].High Power Laser and Particle Beams,1994(3). | |
| Authors: | Huang Wenzhong He Shaotang and Han Hondun |
| Abstract: | |
| Keywords: | laser plasma XUV spectra spectra identification |
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