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基底和膜层-基底系统的赝布儒斯特角计算
引用本文:刘华松,姜玉刚,王利栓,姜承慧,季一勤.基底和膜层-基底系统的赝布儒斯特角计算[J].光子学报,2014,42(7):817-822.
作者姓名:刘华松  姜玉刚  王利栓  姜承慧  季一勤
作者单位:1. 天津津航技术物理研究所 天津市薄膜光学重点实验室, 天津 300192;
2. 同济大学 物理系 先进微结构材料教育部重点实验室, 上海 200092;
3. 哈尔滨工业大学 光电子技术研究所 可调谐激光技术国家级重点实验室, 哈尔滨 150080
基金项目:The National Natural Science Foundation of China (No.61235011), Tianjin Municipal Government of China (Nos.13JCYBJC17300, 12JCQNJC01200)
摘    要:

关 键 词:光学常量  折射率  消光系数  膜层-基底系统  赝布儒斯特角
收稿时间:2013-01-21

Calculation of Pseudo-brewster Angle for Substrate and Thin Film-substrate System
LIU Hua-song,JIANG Yu-gang,WANG Li-shuan,JIANG Cheng-hui,JI Yi-qin.Calculation of Pseudo-brewster Angle for Substrate and Thin Film-substrate System[J].Acta Photonica Sinica,2014,42(7):817-822.
Authors:LIU Hua-song  JIANG Yu-gang  WANG Li-shuan  JIANG Cheng-hui  JI Yi-qin
Institution:1. Tianjin Key Laboratory of Optical Thin Film, Tianjin Jinhang Institute of Technical Physics, Tianjin 300192, China;
2. Key Laboratory of Advanced Micro-Structure Materials(Ministry of Education), Department of Physics, Tongji University, Shanghai 200092, China;
3. National Key Laboratory of Science and Technology on Tunable Laser, Institute of Optical-electronics, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China
Abstract:
Keywords:Optical constant  Refractive index  Extinction coefficient  Thin-film substrate system  Pseudo-Brewster angle
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